TASLimage 固体径迹蚀刻测量系统

TASLimage 固体径迹蚀刻测量系统

概述

TASLimage  是基于核径迹分析技术发展的高性能全自动图像测量及分析系统，用于测量及分析各类塑料径迹探测器，例如TASTRAK（TASL 公司生产）、CR39、PN3。系统的显微镜模块采用了高质量 Nikon 光学器件和超快 3D 机动控制系统，保证了系统的高测量效率、高精度及低本底等优异性能。系统适用于中子测量、氡浓度监测、聚变研究、α粒子放射自显影、铀矿勘探、宇宙射线以及放射领域教学。

特点

• 全自动聚焦，全自动扫描点码和蚀刻径迹；

• 全自动测读批量探测器；

• 快速测读，测读时间为 30~60 秒（与参数设置相关）；

• 自动修正探测器响应衰退，保证探测器可用于 12 个月的长期监测；

• 高度精密的图像分析技术，可区分径迹与本底特征；

• 全自动本底评估（对每个探测器）；

• 扫描数据自动转换为中子剂量。

技术参数

• 探测器类型：PADC（聚丙烯二甘醇碳酸酯）

• 兼容品牌：TASTRAK,CR39,PN3 等，不限尺寸

• TASTRAK 规格：

常规：0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm, 可定制：0.1~0.5mm，＞1.5mm

• 本底径迹：＜20tracks/cm2

• 蚀刻数量：150 个或 294 个，不锈钢蚀刻架

• 蚀刻条件(TASTRAK)：

氡：98℃,约 1 小时；或 75℃,约 6 小时；

中子：85℃,约 3 小时

• 识别径迹密度：≥140tracks/mm2

• 探测限：

氡：5Bq/m3 ~15MBq/m3

中子：下限＜0.25mSv

• 线性：

中子：优于 5,不窄于 0.1mSv - 600 mSv； 氡：     3 -6（200-5000 Bq/m3）