正电子寿命时间谱系统

正电子寿命时间谱系统

概述

正电子的存在首先由 Dirac 提出，在 20 世纪 30 年代通过实验得到证实。正电子是电子的反粒子。正电子与电子的碰撞将导致两个粒子湮灭和发射两个特征 511-keV 伽马射线。这种现象有助于测试量子理论关于电子和正电子与物质相互作用之间差异的预测。此外，正电子已被证明是研究各种结构和过程的有用工具。正电子的寿命可用来测量湮灭点处的局部电子密度。借助于发射的伽马射线可以轻松检测湮灭。正电子寿命技术是对单原子尺度空洞敏感的少有的几种方法之一。

优点

• 经过全面测试和集成的“交钥匙"系统... 您只需要一个正电子源。

• 一整套带标签的电缆和连接器。

• 两个 905-21 型探测器组件。

• 有关测试过程和结果的文档。

PLS-System 包括

• 2 个 905-21 型探测器组件。

• 2 个 583B 型恒定分数鉴别器。

• 2 个 556 型高压电源。

• 1 个 414A 型快速符合。

• 1 个 567 型时间幅度转换器/单通道分析仪。

• 1 个 928-MCB 型多通道分析仪，带 MAESTRO 软件。

• 1 个 DB463 型延迟盒。

• 1 个 4001A/4002D 型 NIM 机箱和电源。

• 1 个 113 型前置放大器。

• 1 个 575A 型光谱放大器。

• 1 台个人电脑。

• 1 套带标签的电缆和连接器。

• 1 个规程与工厂测试文档。

该系统的保证时间分辨率为 200 皮秒（通常测量小于 180 皮秒），使用 Co-60 源在窄能量窗口进行测量。

（此系统不含源。）

PALS：达到纳米级。

软凝聚物质最重要的一个结构问题是由于不规则堆积、密度波动和拓扑约束而在分子之间存在未占据或自由体积。自由体积被认为是能够进行分子重组的体积分数，并且在确定系统的物理和机械性质方面具有重要意义。

PALS 是一种成熟、多功能的技术，可以直接测量这些亚纳米级分子自由体积。PALS 实验将正电子注入到被测材料中然后测量它与材料的一种产生伽马射线的电子一起湮灭之前的时间长度。